安捷伦科技公司推出业界首款用于测试850

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　　（2007年5月22日，北京）――安捷伦科技公司（NYSE：A）日前展示了旗下最新型光波元器件分析仪（LCA）――业界首款用于测试850 nm目标波长的元器件的分析仪。Agilent N4 76B LCA为最好地表征主要光元器件的频率响应树立了新标准。它专为测试高速电信络和计算机络中的10 Gb以太和光纤通道元器件而设计，具有业界领先的多功能性、测量速度和可靠性。 这款LCA可以降低测试成本，加快开发速度，解决目前在LAN/SAN、高速芯片互连和光学背板等方面的挑战。 新型Agilent N4 76B LCA可以降低测量的不确定性，并且测量结果遵循国际标准（安捷伦对此予以保证）。因此使用它，生产、支持和研发工程师能够提高产品的产量和生产能力。在多模条件下对850 nm目标波长的多模元器件进行测试，可以优化短距离元器件的设计――因为不需要通过其他波长的测量结果来推断850 nm目标波长的测量结果，所以消除了额外的测量不确定性。 这款光元器件分析仪拥有在850nm波长处完善的多模发射条件和高达20 GHz的调制速率的标准光/电转换器，进一步丰富了安捷伦的产品线。它可以分析所有类型（电/光、光/电、光/光）的络器件，包括激光驱动器、放大器、激光器、发射机、光调制器、光电二极管和无源光器件等。 它可以在安捷伦业内领先的络分析仪基础上进行线性发射和反射表征测量，提供全S参数分析以及从分析仪一直到探针的校准。 用户可以从现有的Agilent N4 7 A LCA或高性能络分析仪经济高效地升级到此解决方案，从而有效地保护投资。 安捷伦副总裁兼光络测试部总经理Alois Hauk称：“Agilent N4 76B LCA是一款完整的测试解决方案，具有史无前例的850 nm测量能力，可帮助用户更快、成本更低地扩建宽带基础设施。作为市场上第一款、也是绝无仅有的一款测试解决方案，新型光波元器件分析仪将帮助高性能络器件制造商集中力量开发高速、创新的产品，提高生产效益。”